HL-T180顯微顆粒粒度粒型圖像儀
視“打造國(guó)產(chǎn)的顆粒圖像儀器”為己任，以科技創(chuàng)品牌、質(zhì)量闖市場(chǎng)、信譽(yù)贏天下為方針，打造穩(wěn)定、高性價(jià)比的國(guó)產(chǎn)顆粒圖像儀器。
HL-T180顆粒圖像儀是顆粒圖像分析設(shè)備，HL-T180采用工業(yè)級(jí)顯微圖像采集系統(tǒng)，使樣品觀測(cè)清晰。分析軟件系統(tǒng)能夠?qū)悠返摹皢误w數(shù)據(jù)”、“形態(tài)參數(shù)”、“整體分布”等參數(shù)進(jìn)行分析和計(jì)算，可以獲得樣品的整體分布規(guī)律的曲線圖和顆粒形態(tài)描述等豐富數(shù)據(jù)，是對(duì)各類顆粒樣品進(jìn)行觀測(cè)和分析的儀器設(shè)備。配套的顆粒分析軟件進(jìn)行了人性化的升級(jí)和改進(jìn)，由計(jì)算機(jī)自主分析出樣品各種等效粒徑、X、Y切線等“單體屬性”、以及包括長(zhǎng)徑比、球型度在內(nèi)的“形態(tài)參數(shù)”。再通過進(jìn)一步計(jì)算得出此樣品的整體分布情況（包含整體分布曲線等數(shù)據(jù)），軟件中還增加了多幅圖像拼接計(jì)算的模式，增加了參與分析的顆粒數(shù)量，后可將樣品的數(shù)據(jù)以報(bào)告的形式輸出（包含有圖像范例、圖表、數(shù)據(jù)列表等），便于測(cè)試人員對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行管理和匯報(bào)。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
HL-T180顆粒圖像儀”作為顆粒圖像分析儀器，是專為顆�；蝾w粒相關(guān)行業(yè)推出的，它的突出優(yōu)勢(shì)主要體現(xiàn)在以下方面：
1 專業(yè)性強(qiáng)：本產(chǎn)品不但可對(duì)樣品的顆粒單體的進(jìn)行科學(xué)描述，還可以將顆粒的分布情況使用數(shù)據(jù)、圖表等方式進(jìn)行直觀表現(xiàn)。能夠獨(dú)立或輔助顆粒圖像儀等設(shè)備更好的進(jìn)行顆粒測(cè)試工作。
2 數(shù)據(jù)直觀、易懂，分析結(jié)果一目了然：在進(jìn)行顆粒檢測(cè)的同時(shí)還可觀測(cè)樣品形貌的直觀。這能夠使用戶更多的了解顆粒的形貌、狀態(tài)、變化過程等信息。并且，對(duì)照直觀的樣品圖片，可以幫助用戶更好的理解報(bào)告中的數(shù)據(jù)含義。
3 應(yīng)用廣泛，性價(jià)比高：“HL-T180顆粒圖像儀”既可以作為一種觀測(cè)儀器，替代傳統(tǒng)顯微鏡進(jìn)行各種樣品的觀測(cè)工作，又可以計(jì)算樣品的各項(xiàng)數(shù)據(jù)，操作直觀簡(jiǎn)便，應(yīng)用范圍廣泛。
顆粒圖像儀主要用于測(cè)試水泥、陶瓷、藥品、乳液、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、鉆井泥漿、磨料、煤粉、泥砂、粉塵、細(xì)胞、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、墨汁、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿、鋁銀漿及其他粉狀物料的粒度分布和形貌特征
HL-T180 顯微顆粒圖像分析儀技術(shù)參數(shù)及詳細(xì)配置
技術(shù)參數(shù)：
硬件參數(shù)
顯 微 系 統(tǒng)物鏡4X、10X、40X、60X、100X（油）長(zhǎng)距消色差（平場(chǎng)）物鏡組
目鏡1X、10X、16X 大視野攝像目鏡
載物臺(tái)手動(dòng)三維機(jī)械式載物臺(tái)，尺寸：185mm×140mm，移動(dòng)范圍：50mm×75mm，粗微同軸調(diào)焦，微動(dòng)格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置
光源底部透射光源，6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)。可選頂部金相落射式光源（帶起偏振器）
總放大倍數(shù)4倍——1600倍
攝 像 系 統(tǒng)分辨率2048×1536
像素尺寸3.2μm×3.2μm
成像元件1/1.8英寸 progress scan CMOS
幀率6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480
高清晰度900線
信噪比小于42dB
敏感度1.0V@550nm/lux/S
輸出方式USB2.0
實(shí)際觀測(cè)范圍0.5微米——3000微米
軟件參數(shù)
軟 件 功 能靜態(tài)采集將樣品形貌拍攝為高清晰BMP圖片
圖片處理使用多種畫圖工具對(duì)圖片進(jìn)行比較簡(jiǎn)單的處理
圖像拼接將多幅圖片進(jìn)行拼接,在顆粒測(cè)試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測(cè)試的代表性
顆粒的自動(dòng)處理工具集自動(dòng)消除顆粒粘連、自動(dòng)消除雜點(diǎn)、自動(dòng)消除邊界不完整顆粒、自動(dòng)填補(bǔ)顆粒的空心區(qū)域、自動(dòng)平滑顆粒邊緣等12項(xiàng)自動(dòng)處理工具。
比例尺標(biāo)定通過標(biāo)準(zhǔn)測(cè)微尺標(biāo)定后，每次測(cè)試只須選擇與物鏡相對(duì)應(yīng)的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實(shí)際大小數(shù)值。
單個(gè)顆粒數(shù)據(jù)可在圖片上直接對(duì)單個(gè)顆粒進(jìn)行截面積、體積、長(zhǎng)徑比等10多項(xiàng)參數(shù)的分析
任務(wù)管理機(jī)制嚴(yán)格的任務(wù)管理機(jī)制，使用戶能夠?qū)⑺袦y(cè)試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。
報(bào)告輸出將測(cè)試結(jié)果輸出為報(bào)告，并可以自定義報(bào)告樣式。
整體分布特征參數(shù)D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù)
報(bào) 告 參 數(shù)整體頻率分布累計(jì)分布顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計(jì)分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。
統(tǒng)計(jì)平均徑Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計(jì)平均徑
形狀參數(shù)長(zhǎng)徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項(xiàng)常用數(shù)據(jù)
個(gè)數(shù)統(tǒng)計(jì)直接得到所觀測(cè)的顆粒數(shù)量
樣品縮略圖可以將樣品縮略圖顯示到報(bào)告中
表頭輸入可以將樣品名稱、測(cè)試單位、分散介質(zhì)等多項(xiàng)信息輸入到報(bào)告表頭中
自定義LOGO用戶可以自定義LOGO和報(bào)告名稱，使輸出的報(bào)告顯示自己公司的信息
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
HL-T180顆粒圖像儀”作為專業(yè)的顆粒圖像分析儀器，是專為顆�；蝾w粒相關(guān)行業(yè)設(shè)計(jì)開發(fā)的，它的突出優(yōu)勢(shì)主要體現(xiàn)在以下方面：
1 專業(yè)性強(qiáng)：本產(chǎn)品不但可對(duì)樣品的顆粒單體的進(jìn)行科學(xué)描述，還可以將顆粒的分布情況使用數(shù)據(jù)、圖表等方式進(jìn)行直觀表現(xiàn)。能夠獨(dú)立或輔助顆粒圖像儀等設(shè)備更好的進(jìn)行顆粒測(cè)試工作。
2數(shù)據(jù)直觀、易懂，分析結(jié)果一目了然：常見的顆粒測(cè)試儀器有顆粒圖像儀、沉降粒度儀等，但在進(jìn)行顆粒檢測(cè)的同時(shí)還可觀測(cè)樣品形貌的直觀性優(yōu)勢(shì)是其他所有顆粒測(cè)試設(shè)備所不具備的，這能夠使用戶更全面的了解顆粒的形貌、狀態(tài)、變化過程等信息。并且，對(duì)照直觀的樣品圖片，可以幫助用戶更好的理解報(bào)告中的數(shù)據(jù)含義。
3應(yīng)用廣泛，性價(jià)比極高：“HL-T180顆粒圖像儀”既可以作為一種觀測(cè)儀器，替代傳統(tǒng)顯微鏡進(jìn)行各種樣品的觀測(cè)工作，又可以計(jì)算樣品的各項(xiàng)數(shù)據(jù)，操作直觀簡(jiǎn)便，應(yīng)用范圍廣泛。
